DFT测试中，最重要的部分还是sequential circuit的内部状态的测试。
起初ad hoc的方法用来提高testability，可以提高局部的coverage，但并不是一个系统性的方法。
structure的DFT方法，scan design被提出。
ah hoc的方法主要是利用一些guide line和practice的经验来replacing bad design，主要的技术有：
1)insert test point;
2)avoid async set/reset for storage elements;
3)avoid combinational feedback;
4)avoid redundant logic;
5)avoid async logic;
6)partition a large circuit into small blocks;
Test point insertion(TPI)：首先通过testability analysis的方法来得到internal nodes。
observation point insert：SE=0，capture result；SE=1，shift result；
control point insert：TM=0；destination = source；TM=1；destination = CP_input
scan point：由一个control point和一个observation point组成。
加入test point会增加logic path的delay。
test points可以由多个internal nodes来共用，从而减少area。
Structure DFT：
通过将sequential design转变为scan design，有三种工作模式：
1)normal mode，所有的test signal都turn off；
2)shift mode和capture mode下，test mode signal一直有效；
设计流程：
1)将选择到的storage elements转变为scan cell；
2)将这些cell，stitching为一个scan chains；
执行流程：
1)switch到shift mode，将stimulus输入到scan cell中；
2)switch到capture mode，输入clock，capture value；
3)switch到shift mode，移出response；