24V低压检测电路

24V低压检测电路 - 低压检测电压

参考：

ADC采样工作原理详解

使用单片机的ADC采集电阻的分压

问题：

当ADC采集两个电阻分压后的电压的时候，ADC转换出来的电压值和万用表量出来的不一样差异还挺大，但只要在采集点和GND之间跨接一个小电容（比如0.1uf）就解决问题了。这是啥原理？

N1：

分压电阻的输出阻抗太高；
ADC的采样时间太短。

N2：

MCU的ADC，输入首先是一个采样电路，等效一个电子开关、串联电阻、采样保持的负载电容。
在采样时间内，外部信号源，信号源内阻，采样电阻内阻，对采样电容充电。
要采样准确，需要采样时间足够，内阻R和C的时间常数足够小。
要么加大采样时间，要么减少内阻。
如果在信号源（分压电阻处）上并联电容，相当于减少了信号源的内阻。

N3：

分压后电压，最高不能超过参考电压，最好又靠近参考电压，比如70-90%，以提高精度。一般MCU的ADC输入要求信号源内阻小于10K，降低信号源的内阻。对于功耗有要求的，比如分压电阻几百K到1M的，必须要要加电容，降低ADC误差。

N4：

并非加电容就是“滤波”，此处电容的作用主要是：让ADC在采样时可以由外部电容提供足够的电荷“瞬间”转移到内部的采样电容上。
若“滤波”，通常是为了防止混叠。