Boost PFC 调试与软件程序容错性的思考

         最近做了一个数字电源，本意是使用单片机控制PFC。这个问题的现象引起我对软件程序容错性的思考。

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软件的容错性：当硬件故障的时候，程序不跑飞的能力。

          目前就有这样的一个案例，它的逻辑代码是这样的：

          通过检测输入电压的过零点，然后每检测到一个过零点，计数值重置为零，否则再定时器中断里面递增。

          硬件电路：

          分析：

　　　　交流电是50Hz，也就是100个过零点。每两个周期是10ms。受电网供电质量与硬件电路的延时的影响，送到单片机的过零检测波形会有一点点的不对称。

              理想情况下，Vac2_AD处的波形应该是占空比为50%的方波。

              现实情况下，受电网供电质量的影响、Q5的影响，Vac2_AD的波形不是50%。

         程序实现：

//Calculate the input current reference
for (i = 0 ; i < 1000; i++){
      I_ref[i] = (32767*sin(pi/1000.0f*i)+0.5f);
}
//每次检测到Vac2_AD波形的边沿，计数值Count置零。
void __attribute__ ((__interrupt__,__no_auto_psv__)) _CNInterrupt(void){
    IFS1bits.CNIF = 0; //Clear the interrupt flag
    Count = 0;
    ADCPC0bits.SWTRG1 = 1;
}
//定时器10us，递增一次。
Count++；
IL1_Err = I_ref[Count] - IL1_Real;

         上面程序是在理想的情况下，Count是在小于1000的情况下，每次计数到1000，也就是10ms，外部刚好检测到过零点，Count又被置零。

         那么，当检测外部过零点延时到来的时候，Count>1000,那么数组溢出，I_ref[1500]是一个随机数，程序跑飞。

          下面的程序将Count取余，并且在20ms，才置零一次。提高了程序的容错性。         

//Calculate the input current reference
for (i = 0 ; i < 1000; i++){
      I_ref[i] = (32767*sin(pi/1000.0f*i)+0.5f);
}
//每次检测到Vac2_AD波形的边沿，计数值Count置零。
void __attribute__ ((__interrupt__,__no_auto_psv__)) _CNInterrupt(void){
    IFS1bits.CNIF = 0; //Clear the interrupt flag
    if(Count > 1980)Count = 0;
    ADCPC0bits.SWTRG1 = 1;
}
//定时器10us，递增一次。
Count++；
IL1_Err = I_ref[Count%1000] - IL1_Real;

          实验验证：

                 分别将上述代码，在 Boost PFC程序中验证。

                 代码一：存在输入电流正负半周不对称的情况。（负半周期的I_ref不正常，错位和溢出）

                 代码二：正负半周对称。

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         数字电源，控制不仅仅要考虑到程序逻辑的正确性，程序的容错性也是在设计需要考虑的问题。