蓝桥---芯片测试（思维）

Description

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

Input

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

 

Output

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

Sample Input

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

Sample Output

1 3

已知好芯片比坏芯片多，因此测试为好次数最多的芯片必是好芯片

找出被测试为好次数最多的芯片，此芯片的测试数据必准确，输出此芯片的测试数据即可。

#include <stdio.h>
#include <string.h>
#include <iostream>
#include <string>
#include <math.h>
#include <algorithm>
#include <vector>
#include <stack>
#include <queue>
#include <set>
#include <map>
#include <sstream>
const int INF=0x3f3f3f3f;
typedef long long LL;
const double eps =1e-8;
const int mod=1e9+7;
const int maxn=1e6+10;
using namespace std;

int G[25][25];

int main()
{
    #ifdef DEBUG
    freopen("sample.txt","r",stdin);
    #endif
    
    int n;
    scanf("%d",&n);
    for(int i=1;i<=n;i++)
    {
        for(int j=1;j<=n;j++)
            scanf("%d",&G[i][j]);
    }
    int id;
    int MAX=0;
    for(int i=1;i<=n;i++)
    {
        int num=0;
        for(int j=1;j<=n;j++)
        {
            if(i!=j&&G[i][j]) num++;
        }
        if(num>MAX)
        {
            MAX=num;
            id=i;
        }
    }
    int flag=0;
    for(int i=1;i<=n;i++)
    {
        if(G[id][i])
        {
            printf(flag==0?"%d":" %d",i);
            flag=1;
        }
    }    
    
    return 0;
}

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