大家好，为了感谢大家对公众号及本人著作的支持，现决定推出“阅读赢取新书”活动，即
寻找《三极管应用分析精粹：从单管放大到模拟集成电路设计》（以下简称“三极管”）中的错误，并按规定的格式留言到《勘误专用贴》（点击此处跳转），即有机会赢取《显示器件应用分析精粹：从芯片架构到驱动程序设计》（以下简称“显示器件”）新书。
之前早就提过，《三极管》中的很多细节描述都不是我认可的，很多地方都是由于编辑加工而导致的错误。例如，个别汉字删除导致语义不明，改变句式结构导致语法错误等等情况。当然，由于本人水平有限，也可能会存在一些描述上的不恰当，甚至可能存在的技术错误，这些都属于有效错误！总之，我一个人很难有空余的精力去细读，更何况，自己阅读自己的作品容易出现盲点，开展此活动的目的也是为了更好地完善已经出版的著作。
赠书发放时间：在《显示器件》出版印刷前（三审三校后，至少还有数月时间），公众号会统计每个人找出的有效错误数量，并公布获赠人员名单。待《显示器件》出版后，将准备5～10本新书免费包邮赠送（如果参与人数特别众多，且找到的有效错误也很多，赠书数量可以适当提升）。大家可要抓住机会呀，以后出版的图书可就没有多少可以勘误的机会了。
活动注意事项：
1、相同错误以找到的第一个人为准。重复的错误不算有效，所以当你找到认为的错误时，请查找《勘误表》与《勘误专用贴》进行查重（《勘误表》主要用于查找已经发现的错误，因为《勘误专用贴》中留言的错误可能不会及时更新到《勘误表》）。
2、《电容应用分析精粹》的《勘误专用贴》（点击此处跳转）中有效错误数量也将统计到此次活动（粉丝已找到的错误也会统计到个人名下）。
---------------以下为增加的细则--------------------
3、图书中不同位置相同的有效错误累加。例如，某个图片2处引用错误，有效错误数量为2。如果两处相同有效错误分别由两个人发现，两人的有效错误数量均加1。
4、“阅读《三极管应用分析精粹》获取新书活动”发布前(2021年5月21日17点55分)留言的有效错误统计时数量加倍，考虑的是读者留言图书的自主能动性。
---------------以上为增加的细则------------------------------
5、留言格式在《勘误专用贴》中有说明，即注明第几页，第几段（行），原文及修改后的内容，可参考《勘误专用贴》下sunshine_jackie的留言。
6、《勘误专用贴》与《勘误表》可在公众号菜单《其它相关》-《书籍撰写》-《勘误》中找到。另外，最新《勘误表》百度云盘下载链接也可以通过给公众号发送“勘误”、“KW”、“KANWU”、“kw”等字符串获得。
7、本公众号拥有该活动最终解释权。
加油吧，伙计们，预祝你们凯旋还朝，么么哒～～
