关于Insert_Scan
- 随着半导体工艺的发展,可测性技术(DFT)成为每个芯片在设计中必须考虑的问题
- 测试覆盖率作为DFT技术中的关键指标,受到多种因素制约
- 本文针对常见的Insert_scan问题和方法,做一个深入的分析和总结
- Insert_Scan属于时序设计中的高阶问题,需要一定的背景知识才能了解透彻
- 实际案例的具体分析和方法
- 希望对大家的面试和工作有帮助
What is DFT?
- DFT strategies that :
- Improve quality by detectingdefects
- Make it easier to generatevectors
- Reduce vector generation time
- Reduce cost
Insert scan 总结
- Insert scan 属于时序设计中的高阶问题
- 需要根据设计的具体情况严格定义scan的范围
- 充分考虑insertscan 对时序的影响,合理制定DFT方案
- 充分考虑设计和测试的实际情况,合理推出DFT的解决方案
- 根据testcoverage 的报告,合理高效的分析测试结果,同RTL设计人员的充分沟通是提高测试覆盖率的唯一途径
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