一个典型的scan实现的flow：
clock mux和一些rst，在Scan中都被bypass掉，是不能测到的。所以DFT的test coverage一般就在97%或98%。
scan design rule checking and repair：
可以在presynthesis RTL design或者postsynthesis gate-level design上进行，
经过scan repair之后的design，称为testable design。
scan synthsis是将一个testable design转换为一个scan design，目前design中会包含好几条scan chain。
scan extraction是将最终scan chain的结构提取出来，供ATPG使用。
scan verification针对shift，capture操作，进行response的验证。
Scan Design Rule Checking and Repair
进行scan design rule的check，某些clock control structure需要修改来增加at-speed test。
scan design rule的check也可以在scan synthesis之后，来保证没有新的violation出现。
在shift操作中，所有的clock都可以通过external pin来控制，在相邻的两个scan cell之间的
clock skew必须保证不会引起shift failure。
在capture操作中，data path的originate/terminate的clock可能是不一样的，这时需要考虑
timing来保证capture操作的正确。
Scan Synthesis
scan synthesis将一个testable design转变为一个scan design。
在1990年，scan synthesis的操作是一些分散的tools，将logic synthesis后的gate_level
netlist进行处理。
最近，scan synthesis的操作已经集成在了logic synthesis中，这样的处理，称为one-pass
synthesis或者single-pass synthesis。
主要包括四个部分：1)scan configuration; 2)scan replacement; 3)scan reordering;
4)scan stitching;
scan chain主要包括：
1)the number of scan chain;
2)the type of scan cells to implement these scan chain;
3)storage element to be excluded from scan synthesis;
4)the way of scan cell arranged in scan chain;
scan chain number主要由电路的input和output的个数来决定，high-speed的IO pad是不能
被用来做scan IO复用的。
scan cell的type，主要由lib来决定，一般每一种使用的storage element都会有相应的scan cell type，
来保证functionality和timing在正常操作下，被影响的最小。
exclude的storage element主要因为critical path或者security reason等。
storage element的arrange，主要由这些scan chain上的clock domain的多少来决定。
一般情况下，一个scan chain由属于同一个clock domain的scan cell组成，(因为在DC过程中，整个scan chain是一条data path
此时的异步逻辑在DFT中也会是同步的处理。)
当一个clock domain包含很多的scan cells时，一些scan chain会被结构化的实现，scan-chain operation被用来减小scan-chain的长度。
当一个scan-chain中既包含negative-edge scan cell又包括positive-edge scan cell时，negative的scan cell
应该放在positive scan-cell的前边。(为了clock一个周期只移动一位)
scan-chain的长度尽量平衡，方便并行化。
如果positive scan-cell放在前边，那么这两个cell在一个clock周期内，都会shift data。
当一个scan-chain的scan cell来自不同的clock domain时，一个lock-up latch需要插入。
这样可以保证，不论CK2优先CK1还是CK1优先CK2，shift的操作都是正确的。
但是必须保证CK1和CK2之间的skew少于一个duty cycle。
当scan chain的clock结构定下来以后，进行scan cell的stitch到scan chain以及这些scan cell的
place，stitch以最小化scan routing为目标。
Scan Replacement：
经过scan configuration，scan replacement将storage element替换为functionally equivalent scan cell
这时的design叫做，scan-ready design。
这些scan cell的input通常连接到同一个scan cell的output来避免floating。这些连接在stitch阶段去除。
目前，在RTL阶段也可以实现部分的scan replacement。
Scan Reordering
反应scan chain中scan cell的reorder。在物理实现之前，一个random的scan order被design使用。
在进行physical implementation时，scan order可以使用intra_scan_chain reordering(scan cell只在该scan
chain内进行reorder)和inter_scan_chain reordering(scan cell在不同的scan chain之间reorder)
scan stitching
将所有的scan cell stitch到一起，组成scan chain。将每一个scan cell的output连接到下一级的input。
将第一个scan cell的input连接到primary input，最后一个scan cell的output连接到primary output。
在stitch的过程中，需要插入一些lock_up的latch和lock_up的FF来保证shift操作正确。