芯片测试

   

 

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

问题分析:题目前面说明了 好的芯片数量大于坏的芯片， 所以判断的是矩阵的列中 1 多 还是 0多， 如果1多就说明该列为好芯片

源代码

package lanqiao;

import java.io.BufferedReader;
import java.io.InputStreamReader;

/**
*@author wenfan
*@version 2019年3月2日下午10:43:16
*/
public class ChipTest {
    public static void main(String[] args)throws Exception {
        BufferedReader br = new BufferedReader(new InputStreamReader(System.in));
        int n = Integer.parseInt(br.readLine());
        int matrix [] [] =new int [n][n];
        for(int i = 0 ;i < n;i++) {
            String row[] = br.readLine().split(" ");
            for(int j = 0; j < n;j++) {
                matrix[i][j] = Integer.parseInt(row[j]);
            }
            row = null;
        }
        
        for(int i = 0;i < n;i++) {
            int errCount = 0;
            for(int j = 0;j < n;j++) {
                if(matrix[j][i] == 0) {
                    errCount ++;
                }
            }
            if((n-errCount) > errCount) {
                System.out.print(i+1+" ");
            }
        }
        
    }
}