针对lower power的验证，由cpf/upf来建模，包括：
1)power gating的功能模型(在power gate之后将output force为x)
2)isolation功能模型；
3)save和restore的功能模型；
4)power gating/retention/reset的sequence功能模型；
Power Gating对DFT设计的要求：
1)test power switching network的行为正确；
2)test shutdown，isolation，retention的行为正确；
3)test power gating controller的行为正确；
在DFT设计中，要求chip各个部分的reset信号必须是可控的，
防止scan test pattern偶然的toggle使得power FSM有效，进而掉电；
防止scan test pattern偶然的toggle isolation clamp信号；
防止scan test pattern偶然的toggle restore/save信号；
保证power gating controller的输出信号都经过test的mux；
DFT中的power控制：
1)DFT test时，每一个FF都可能在clock边沿toggle，使得dynamic power相比正常工作大大增加；
2)在test中，power gating的使能信号必须是可控的，从而可以关掉不需要的domain，来防止
power超过package的上限，芯片过热而损坏，影响测试结果；
3)在设计scan chain时，根据power domain来进行区别；
对switch network的测试，检查tie0/tie1：
1)使用IDDQ的DFT测试方式；IDDQ的目标值不好确定，可以根据百分比，如20%power以内正常，这样。
2)At-speed的测试，因为switch工作不正确时，可能会影响timing；
以上两种方式都不能完全确认fault，所以一般还会跑一些function的test(通过pin将波形输入，观察输出波形)；
对isolation 和retention cell的测试：
1)使用function tests，比较波形；
2)scan test，对0/1都测试到；
eg；对retention cell的测试：
1)一个0/1的pattern scan in ff；
2)save操作执行；
3)相反的1/0的pattern scan in ff；
4)Power down/Power up；
5)restore执行；
6)scan out结果，检查FF的值正确；
以上的测试都是基于，force power gating controller的值，
而controller的值的测试：
1)function test，针对design而不同(design specific)；
2)scan test，可以在controller外加一层wrapper，见标准IEEE 1500来保证可控可观；(一般的DFT设计都是直接可控iso/retention来实现scan shift/capture)
总之在test中，必须保证clock/reset/power gating control signal/isolation control signal/
retention signal都是可控的。